2015年1月29日，第15次AgriPheno論壇在上海浦東孫橋現(xiàn)代農(nóng)業(yè)園區(qū)圓滿結束。來自荷蘭KeyGene公司的數(shù)字化植物表型主管Marco van Schriek先生做了題為“Exploitation of digital phenotype markers forprediction of Brassica napusfield seed yield”的報告。來自中科院植生所、中科院植物逆境中心、中國農(nóng)科院生物所、上海交通大學、同濟大學、上海農(nóng)科院、云南煙科院等單位的科研人員參加了本次論壇。

在報告中，Marco介紹了Keygene公司在植物表型研究領域的技術進展，以“利用植物早期表型測定預測油菜產(chǎn)量”為例，分享了植物表型測量對于育種方向和過程的指導意義。隨著各類作物基因組測序完成，對于基因型研究越來越深入，而關于植物表型及其控制基因型之間的關聯(lián)的研究較少。目前，對表型的測量通常通過肉眼進行，對于像顏色等難于正確識別的性狀，需要一個更加客觀的測量和記錄工具。

Keygene研究團隊通過測量油菜幼苗的葉片性狀、大小、株高等表型參數(shù)，對每株油菜幼苗每天同一角度進行表型圖像采集，形成油菜植株電子化的生長表型的信息庫。通過從圖像到植物數(shù)字表型的統(tǒng)計和關聯(lián)分析，對油菜產(chǎn)量進行預測，并通過大田實驗驗證，得到了理想的數(shù)據(jù)關聯(lián)性。

講座結束后，參加論壇各單位研究人員就各自研究領域的表型測定與Marco進行了深入交流，尤其對于目前表型測定研究熱點進行了熱烈探討。

關于“AgriPheno論壇”
“AgriPheno論壇”是由高通量植物基因型-表型-育種服務平臺AgriPheno推出的一個學術交流活動平臺，旨在促進國內(nèi)外相關學者、育種家、發(fā)明家和應用科學家與AgriPheno平臺和上海的農(nóng)業(yè)科技人員之間的交流、互動。該論壇不定期于AgriPheno平臺（上海市浦東新區(qū)沔北路185號孫橋現(xiàn)代農(nóng)業(yè)園C9-1）舉行，每次會提前通過網(wǎng)站、微信等渠道發(fā)布通知。我們誠摯邀請相關學者、育種家、發(fā)明家和應用科學家在訪問AgriPheno平臺時通過講座報告的形式參與該論壇；我們熱誠歡迎相關科研人員和研究生參與論壇的交流活動。