全面升級(jí):美國(guó)CID公司新的植物冠層分析儀CI-110
日期:2017-11-27 18:04:29

美國(guó)CID公司從成立之初一直秉承輕便、操作簡(jiǎn)單的設(shè)計(jì)理念,開發(fā)和制造適合田間林地測(cè)量的儀器。CID公司的儀器,輕便的設(shè)計(jì)讓客戶可以解放自己的雙手,便于在田間或林地使用,科學(xué)嚴(yán)謹(jǐn)?shù)膽B(tài)度保證數(shù)據(jù)測(cè)量的科學(xué)性和準(zhǔn)確性。新的植物冠層分析儀CI-110經(jīng)過(guò)近一年的設(shè)計(jì)和不斷的改進(jìn),終于在今日面世。它進(jìn)行了全面的升級(jí),不僅僅繼承了之前的可視化功能,而且摒棄了之前的必須連接電腦不便之處,單手就可以在林地、田間測(cè)量植物冠層,非常的便捷。

新的植物冠層分析儀CI-110利用高清的魚眼鏡頭和CCD圖像傳感器來(lái)獲取植物冠層圖像。通過(guò)專業(yè)軟件分析,獲得植物冠層的葉面積指數(shù)(LAI)和冠層其它的參數(shù);自動(dòng)水平數(shù)字相機(jī)獲取150°的冠層圖像,手柄上24個(gè)PAR傳感器測(cè)量光合有效輻射并計(jì)算光斑。CI-110圖像法測(cè)量植物冠層,僅僅獲取一次冠層圖像即可,簡(jiǎn)化了傳統(tǒng)能量法要一天定點(diǎn)多次測(cè)量的繁復(fù)工作;同時(shí)可以躲開障礙物,選擇合適測(cè)量點(diǎn)。

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新的CI-110分析軟件不僅可顯示PAR光合儀有效輻射、Sunfleck值、GPS信息,還可以進(jìn)行天頂角和方位角的分區(qū),可以獲得不同區(qū)域內(nèi)的太陽(yáng)直接輻射、消光系數(shù)、葉片的方位分布等參數(shù)。

新的CI-110性能更佳,操作更佳簡(jiǎn)便,為客戶提供科學(xué)的、精確的數(shù)據(jù)分析,我們非常歡迎新老客戶前來(lái)咨詢。


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